Nos complace anunciaros la 1ª edición del curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo: Análisis cuantitativo, microestructural y método Rietveld que organiza el Laboratorio de Estudios Cristalográficos y que tendrá lugar en Granada, del 19 al 21 de septiembre de 2017.
El objetivo principal de este curso intensivo es ofrecer una formación especializada en el uso de métodos de análisis avanzados de difracción de rayos X de polvo.
Se pretende que el alumno adquiera conocimientos y, fundamentalmente, práctica en métodos de ajuste de perfil sin y con modelo estructural dirigidos a aplicaciones de interés científico e industrial. Se hará especial énfasis en el análisis cuantitativo de fases cristalinas, cuantificación de fases amorfas, análisis microestructural y afinamiento por el método Rietveld, mediante el uso del software TOPAS.
Podréis encontrar información más detallada en el tríptico que os adjuntamos así como en la web http://www.lec.csic.es/cursosxrd/
Aquellas personas pertenecientes a grupos de la Red (incluidos becarios y técnicos) que estén interesadas en asistir al curso pueden solicitar ayuda de viaje y estancia una vez hayan realizado el pago de la correspondiente inscripción, indicándolo mediante correo electrónico a la secretaría del curso cursosxrd@iact.ugr-csic.es
Un cordial saludo,
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